TWS藍(lán)牙射頻生產(chǎn)測試平臺是深加博公司專為TWS這類設(shè)備設(shè)計的整機(jī)測試解決方案。專為晶片組設(shè)計的全方位一站式(Turnkey)RF測試解決方案。配合各類測試儀器能讓客戶以最少的工程量發(fā)揮迅速的量產(chǎn)能力。
TWS-ATE測試平臺重點(diǎn):
綜合 DUT 控制,兼容DUT Mode及Direct Test Mode
一對多并行
多種型號測試儀控制
數(shù)據(jù)存檔和分析的數(shù)據(jù)日志記錄支持
通過直觀的用戶界面實現(xiàn)測試計劃的設(shè)定
易于使用的制造測試操作界面
TWS-ATE 測試成品藍(lán)牙射頻性能(依照藍(lán)牙射頻測試規(guī)范執(zhí)行測試)
TWS-ATE 支援的測試項目包括:
輸出功率
頻率偏移
調(diào)制特性
功率控制
載波漂移
最大輸入電平
單時隙靈敏度
多時隙靈敏度
一站式的解決方案
對芯片組參考設(shè)計進(jìn)行全面測試并與關(guān)鍵的芯片組公司一起進(jìn)行驗證。顯著減少工程開發(fā)周期而不會犧牲質(zhì)量。
優(yōu)化的性能
基于芯片組及儀器原廠官方認(rèn)證API開發(fā)的并行測試系統(tǒng),以確保測試和校準(zhǔn)例程是唯一進(jìn)行優(yōu)化的,以減少時間并實現(xiàn)產(chǎn)量最大化。
可由用戶配置
測試列表、條件和限制等均完全可配置。
友好的用戶界面
簡潔的用戶界面,自動調(diào)用測試計劃并可顯示良品率。
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄
日志文件采用通用 CSV 格式,便于導(dǎo)出分析。
技術(shù)支持
快速高效的技術(shù)支持,包括遠(yuǎn)程支持和現(xiàn)場應(yīng)用服務(wù)。
TWS-ATE 測試方案可用于任何采用藍(lán)牙技術(shù)的地方。其中包括:
智能手機(jī)
平板電腦
藍(lán)牙耳機(jī)
藍(lán)牙音響
WLAN / 藍(lán)牙 SiP (系統(tǒng)級封裝)設(shè)備
啟用藍(lán)牙的物聯(lián)網(wǎng)
支援的測試儀器:
IQxel-M
MT8852B
CMW270
CMW500
CBT32
N4010A
TWS藍(lán)牙射頻生產(chǎn)測試平臺是深加博公司專為TWS這類設(shè)備設(shè)計的整機(jī)測試解決方案。專為晶片組設(shè)計的全方位一站式(Turnkey)RF測試解決方案。配合各類測試儀器能讓客戶以最少的工程量發(fā)揮迅速的量產(chǎn)能力。
TWS-ATE測試平臺重點(diǎn):
綜合 DUT 控制,兼容DUT Mode及Direct Test Mode
一對多并行
多種型號測試儀控制
數(shù)據(jù)存檔和分析的數(shù)據(jù)日志記錄支持
通過直觀的用戶界面實現(xiàn)測試計劃的設(shè)定
易于使用的制造測試操作界面
TWS-ATE 測試成品藍(lán)牙射頻性能(依照藍(lán)牙射頻測試規(guī)范執(zhí)行測試)
TWS-ATE 支援的測試項目包括:
輸出功率
頻率偏移
調(diào)制特性
功率控制
載波漂移
最大輸入電平
單時隙靈敏度
多時隙靈敏度
一站式的解決方案
對芯片組參考設(shè)計進(jìn)行全面測試并與關(guān)鍵的芯片組公司一起進(jìn)行驗證。顯著減少工程開發(fā)周期而不會犧牲質(zhì)量。
優(yōu)化的性能
基于芯片組及儀器原廠官方認(rèn)證API開發(fā)的并行測試系統(tǒng),以確保測試和校準(zhǔn)例程是唯一進(jìn)行優(yōu)化的,以減少時間并實現(xiàn)產(chǎn)量最大化。
可由用戶配置
測試列表、條件和限制等均完全可配置。
友好的用戶界面
簡潔的用戶界面,自動調(diào)用測試計劃并可顯示良品率。
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄
日志文件采用通用 CSV 格式,便于導(dǎo)出分析。
技術(shù)支持
快速高效的技術(shù)支持,包括遠(yuǎn)程支持和現(xiàn)場應(yīng)用服務(wù)。
TWS-ATE 測試方案可用于任何采用藍(lán)牙技術(shù)的地方。其中包括:
智能手機(jī)
平板電腦
藍(lán)牙耳機(jī)
藍(lán)牙音響
WLAN / 藍(lán)牙 SiP (系統(tǒng)級封裝)設(shè)備
啟用藍(lán)牙的物聯(lián)網(wǎng)
支援的測試儀器:
IQxel-M
MT8852B
CMW270
CMW500
CBT32
N4010A